STM7测量显微镜 STM7 Measuring Microscope

型号：奥林巴斯STM7

产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准，可以广泛应用于数据缓存、数据处理。

所属分类：

封装服务

关键词：EDA软件与芯片展示

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产品描述

- 商品名称: STM7测量显微镜 STM7 Measuring Microscope
型号：奥林巴斯STM7

测试

STM7测量显微镜
STM7 Measuring Microscope

型号：奥林巴斯STM7
功能：STM7显微镜具有出色的多功能性和高性能，可对零件和电气元件进行三轴测量，精度可达亚微米级。
工程师：孙自洁/
设备地点：封测区
设备编号：

设备基本信息
主要用途：
用于微纳加工样品的结构观察及测量，也可以适用于超出视场范围大样品测量。
工艺/测试能力：
1. 对于标准样品，平面测量精度≤3μm+2%*L（L为测量长度，验收标准L=1mm量测结果L=0.9991mm）
2. 对于标准样品，Z轴测量精度≤5μm+3%*L（L为测量长度，验收标准L=1.38mm量测结果L=1.3805mm）
技术指标：
1. 提供300mm×300mm载物台，能够测量较大的样品，包括300mm晶圆和印刷电路板。
2. X轴和Y轴测量区域长度相等，无需旋转样品
3.允许在载物台上排列多个样品，实现更高效的测量

设备工作原理
STM7系列采用了先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。观察到的图像具有高分辨率和高对比度，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。测量显微镜采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统。

典型使用案例
对于标准样品，Z轴测量精度≤5μm+3%*L，L为测量长度；验收标准L=1.38mm量测结果L=1.3805mm。