- 产品描述
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测试
三维光学轮廓仪
3D Optical Profilometer
型 号：美国KLA Zeta-20
功 能：收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。
工 程 师：周爱文/
设备地点：薄膜I区
设备编号：
设备基本信息
主要用途：
可对近乎所有材料和结构成像分析，同时收集高分辨率3D扫描信息和样品表面真彩色图像。
工艺/测试能力：
三维光学轮廓仪可用于测量表面形貌、粗糙度等并进行三维成像。
技术指标：
样品尺寸：8英寸及以下的样品，样品高度不超过3cm。
设备工作原理
基于ZDot™技术，Zeta-20可以对近乎所有材料和结构进行成像分析。当光束照射到样品表面时，会产生散射光。
其中，光会受到样品表面形貌的影响，从而改变其传播方向和振幅。通过对散射光的测量和分析，可以获得样品表面的形貌信息。
典型使用案例
对大部分的液体材料，通过对介电常数的精准测蛋来获得其组分信息、结构信息和极化机理,相对于基于光学的光谱测蛋表征，最近已经变得越来被流行。尤其对于天然的混合物，如牛奶、果汁、谷物和一些软组织等，介电常数测蛋表征的优势更加突出。
基于国产DDR3管芯的SiP 级封装产品，封装尺寸8.5mmx 10mm。产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准，可以广泛应用于数据缓存、数据处理。
致力于异质异构集成，毫米波射频测试、EDA及人工智能综合服务
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