等离子增强化学气相沉积 PECVD system

型 号: 创世威纳PECVD-601

产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准,可以广泛应用于数据缓存、数据处理。

所属分类:

封装服务

关键词:EDA软件与芯片展示

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  • 产品描述

    薄膜沉积

     

    等离子增强化学气相沉积                  

    PECVD system

     

    型    号:创世威纳PECVD-601

    功    能:利用射频电离含成膜原子的气体,形成局部等离子体,引发气相反应,在样品表面沉积固态薄膜。

    工 程 师: 周爱文/

    设备地点: 薄膜I区

    设备编号: 

     

    设备基本信息

    主要用途:

    主要用于300℃下SiO2和Si3N4等薄膜生长。

    工艺/测试能力:

    1. 满足6英寸及以下晶圆蒸镀薄膜;

    2. 可实现SiO2和Si3N4薄膜沉积;

    3. 加热温度最大可达300

    技术指标:

    1. 膜厚不均匀性:±6%Φ150mm范围内);

    2. 加热温度~300℃,控温精度±1%

     

    设备工作原理

    PECVD技术是在低气压下,利用低温等离子体在工艺腔体的阴极上(即样品放置的托盘)产生辉光放电,

    利用辉光放电(或另加发热体)使样品升温到预定的温度,然后通入适量的工艺气体,这些气体经一系列

    化学反应和等离子体反应,最终在样品表面形成固态薄膜。

     

    典型使用案例

对大部分的液体材料,通过对介电常数的精准测蛋来获得其组分信息、结构信息和极化机理,相对于基于光学的光谱测蛋表征,最近已经变得越来被流行。尤其对于天然的混合物,如牛奶、果汁、谷物和一些软组织等,介电常数测蛋表征的优势更加突出。

基于国产DDR3管芯的SiP 级封装产品,封装尺寸8.5mmx 10mm。产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准,可以广泛应用于数据缓存、数据处理。