多靶磁控溅射镀膜系统 Multi-target magnetron sputtering coating system

型 号:维开M600

产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准,可以广泛应用于数据缓存、数据处理。

所属分类:

封装服务

关键词:EDA软件与芯片展示

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  • 产品描述

    薄膜沉积

     

    多靶磁控溅射镀膜系统                      

    Multi-target magnetron sputtering coating system

     

    型    号:维开M600

    功    能:常温、高温条件下均可沉积高质量、厚度精确可控制的金属单质及氧

    化物半导体、化合物等多种薄膜。

    工 程 师:周爱文/

    设备地点:薄膜I区

    设备编号:

     

    设备基本信息

    主要用途:

    沉积高质量、厚度精确可控制的金属单质及氧化物半导体、化合物等多种薄膜。

    工艺/测试能力:

    1. 支持溅射Cr、Cu、Ni等镀膜;

    2. 支持8英寸以下的样品加工,厚度不要超过1cm

    3具备强磁靶,可以溅射磁性材料;

    4可实现原位基片清洗、多层复合薄膜、多靶共溅复合薄膜沉积 

    5工件台具备500℃以下加热功能 ,适合做原位加热制备半导体薄膜材料。

    技术指标:

    1.非均匀性±5%@8英寸衬底;

    2.具备500℃以下加热功能;

    3.支持8英寸以下的样品加工。

     

    设备工作原理

    在高真空环境中充入氩气,施加高压电场后,电子被加速并与氩原子碰撞,产生Ar⁺离子

    和更多电子,形成等离子体。Ar⁺离子在电场作用下高速轰击靶材表面,使靶材原子脱离

    并溅射。

     

    典型使用案例

对大部分的液体材料,通过对介电常数的精准测蛋来获得其组分信息、结构信息和极化机理,相对于基于光学的光谱测蛋表征,最近已经变得越来被流行。尤其对于天然的混合物,如牛奶、果汁、谷物和一些软组织等,介电常数测蛋表征的优势更加突出。

基于国产DDR3管芯的SiP 级封装产品,封装尺寸8.5mmx 10mm。产品电气特性符合JESD79-3F DDR3 SDRAM标准。内部合封16位DDR3/3L裸芯片2颗、端接电阻、电容组成32位存储芯片。产品设计符合工业级标准,可以广泛应用于数据缓存、数据处理。